公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | WOS | 全文 |
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2010 | Measurements of dielectric properties of TiO2 thin films at microwave frequencies using an extended cavity perturbation technique | Jyh-Jong Sheen ; Li, C. Y.; Ji, L. W.; Mao, W. L.; Liu, W. H.; Chen, C. A. | Journal of Materials Science-Materials in Electronics |