公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | WOS | 全文 |
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2004 | Fatigue crack growth behavior of laser-annealed IN 718 alloy in hydrogen | L.W. Tsay ; H.H. Lin; R.K.Shiue | |||
2003 | The reliability study of selected Sn-Zn based lead-free solders on Au Ni-P Cu substrate | R.K.Shiue; L.W. Tsay ; C.L. Lin; J.L. Ou | Microelectronics Reliability | 36 |