| 公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 |
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| 2001 | Polarized-photoreflectance characterization of an InGaP/InGaAsN/GaAs NpN double-heterojunction bipolar transistor structure | Lin, C. J.; Huang, Y. S.; Li, N. Y.; Li, P. W.; Kwong-Kau Tiong | Journal of Applied Physics | 7 |
