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  1. National Taiwan Ocean University Research Hub
  2. 電機資訊學院
  3. 光電與材料科技學系
Please use this identifier to cite or link to this item: http://scholars.ntou.edu.tw/handle/123456789/2242
標題: Forming Gas Annealing Induced Degradation in Nanoscale Electrical Homogeneity of Bismuth Ferrite Thin Films
作者: Yuan-Chang Liang 
公開日期: 2011
卷: 158
期: 6
來源出版物: Journal of the Electrochemical Society
URI: http://scholars.ntou.edu.tw/handle/123456789/2242
ISSN: 0013-4651
DOI: 10.1149/1.3570960
://WOS:000289854700081
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