公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | WOS | 全文 |
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2009 | In-TFT-Array-Process Micro Defect Inspection Using Nonlinear Principal Component Analysis | Liu, Y. H.; Wang, C. K.; Ting, Y.; Lin, W. Z.; Kang, Z. H.; Chen, C. S.; Jih-Shang Hwang | International Journal of Molecular Sciences |