In-TFT-Array-Process Micro Defect Inspection Using Nonlinear Principal Component Analysis

請用此 Handle URI 來引用此文件： http://scholars.ntou.edu.tw/handle/123456789/4548

標題:	In-TFT-Array-Process Micro Defect Inspection Using Nonlinear Principal Component Analysis
作者:	Liu, Y. H. Wang, C. K. Ting, Y. Lin, W. Z. Kang, Z. H. Chen, C. S. Jih-Shang Hwang
公開日期:	十月-2009
卷:	10
期:	10
來源出版物:	International Journal of Molecular Sciences
URI:	http://scholars.ntou.edu.tw/handle/123456789/4548
DOI:	10.3390/ijms10104498 ://WOS:000271276000017
顯示於：	光電與材料科技學系

顯示文件完整紀錄

上周
0

上個月
0

checked on 2022/10/13

檢查

TAIR相關文章