http://scholars.ntou.edu.tw/handle/123456789/2040| 標題: | Investigation of surface properties of Si-doped GaN films by electric force microscopy and photoluminescence | 作者: | Tai-Yuan Lin Su, W. S. Chen, Y. F. |
公開日期: | 2004 | 卷: | 130 | 期: | 1-2 | 來源出版物: | Solid State Communications | URI: | http://scholars.ntou.edu.tw/handle/123456789/2040 | ISSN: | 0038-1098 | DOI: | 10.1016/j.ssc.2004.01.011 |
| 顯示於： | 光電與材料科技學系 |
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