Measurements of microwave dielectric properties by an amended cavity perturbation technique

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標題:	Measurements of microwave dielectric properties by an amended cavity perturbation technique
作者:	Jyh-Jong Sheen
公開日期:	一月-2009
卷:	42
期:	1
來源出版物:	Measurement
URI:	http://scholars.ntou.edu.tw/handle/123456789/3147
ISSN:	0263-2241
DOI:	10.1016/j.measurement.2008.03.017 ://WOS:000262244500009
顯示於：	機械與機電工程學系

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