LEARNING VECTOR QUANTIZATION NEURAL NETWORKS FOR LED WAFER DEFECT INSPECTION

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標題:	LEARNING VECTOR QUANTIZATION NEURAL NETWORKS FOR LED WAFER DEFECT INSPECTION
作者:	Chang, C. Y. Li, C. H. Chang, C. H. Mu-Der Jeng
公開日期:	十月-2008
卷:	4
期:	10
來源出版物:	International Journal of Innovative Computing Information and Control
URI:	http://scholars.ntou.edu.tw/handle/123456789/8516
ISSN:	1349-4198
DOI:	://WOS:000260104100012
顯示於：	電機工程學系

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