http://scholars.ntou.edu.tw/handle/123456789/8517| 標題: | An unsupervised neural network approach for automatic semiconductor wafer defect inspection | 作者: | Chang, C. Y. Li, C. H. Chang, J. W. Mu-Der Jeng |
公開日期: | 一月-2009 | 卷: | 36 | 期: | 1 | 來源出版物: | Expert Systems with Applications | URI: | http://scholars.ntou.edu.tw/handle/123456789/8517 | ISSN: | 0957-4174 | DOI: | 10.1016/j.eswa.2007.10.033 |
| 顯示於： | 電機工程學系 |
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