http://scholars.ntou.edu.tw/handle/123456789/8177| 標題: | Characterization of Ge/Si0.16Ge0.84 multiple quantum wells on Ge-on-Si virtual substrate using piezoreflectance spectroscopy | 作者: | Wu, P. H. Huang, Y. S. Hsu, H. P. Li, C. Huang, S. H. Kwong-Kau Tiong |
公開日期: | 八月-2013 | 卷: | 167 | 來源出版物: | Solid State Communications | URI: | http://scholars.ntou.edu.tw/handle/123456789/8177 | ISSN: | 0038-1098 | DOI: | 10.1016/j.ssc.2013.04.035 |
| 顯示於： | 電機工程學系 |
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