http://scholars.ntou.edu.tw/handle/123456789/8518
標題: | Wafer defect inspection by neural analysis of region features | 作者: | Chang, C. Y. Li, C. H. Chang, Y. C. Mu-Der Jeng |
公開日期: | 十二月-2011 | 卷: | 22 | 期: | 6 | 來源出版物: | Journal of Intelligent Manufacturing | URI: | http://scholars.ntou.edu.tw/handle/123456789/8518 | ISSN: | 0956-5515 | DOI: | 10.1007/s10845-009-0369-4 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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