http://scholars.ntou.edu.tw/handle/123456789/8545| 標題: | ERCN* merged nets for modeling degraded behavior and parallel processes in semiconductor manufacturing systems | 作者: | Mu-Der Jeng Xie, X. L. Chung, S. L. |
公開日期: | 一月-2004 | 卷: | 34 | 期: | 1 | 來源出版物: | Ieee Transactions on Systems Man and Cybernetics Part a-Systems and Humans | URI: | http://scholars.ntou.edu.tw/handle/123456789/8545 | ISSN: | 1083-4427 | DOI: | 10.1109/tsmca.2003.820579 |
| 顯示於： | 電機工程學系 |
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