http://scholars.ntou.edu.tw/handle/123456789/8759| 標題: | Gate-metal formation-related kink effect and gate current on In0.5Al0.5As/In0.5Ga0.5As metamorphic high electron mobility transistor performance | 作者: | Hsu, M. K. Chen, H. R. Chiou, S. Y. Chen, W. T. Chen, G. H. Chang, Y. C. Wen-Shiung Lour |
公開日期: | 七月-2006 | 卷: | 89 | 期: | 3 | 來源出版物: | Applied Physics Letters | URI: | http://scholars.ntou.edu.tw/handle/123456789/8759 | ISSN: | 0003-6951 | DOI: | 10.1063/1.2222259 |
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