Measurements of dielectric properties of TiO2 thin films at microwave frequencies using an extended cavity perturbation technique

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標題:	Measurements of dielectric properties of TiO2 thin films at microwave frequencies using an extended cavity perturbation technique
作者:	Jyh-Jong Sheen Li, C. Y. Ji, L. W. Mao, W. L. Liu, W. H. Chen, C. A.
公開日期:	八月-2010
卷:	21
期:	8
來源出版物:	Journal of Materials Science-Materials in Electronics
URI:	http://scholars.ntou.edu.tw/handle/123456789/3153
ISSN:	0957-4522
DOI:	10.1007/s10854-009-9999-8 ://WOS:000279034200010
顯示於：	機械與機電工程學系

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